平面显示器面板点灯测试

平面显示器面板点灯测试｜台湾最专业的半导体领导品牌-精研微科技股份有限公司

如有平面显示器面板点灯测试与半导体应用等相关问题，请参考下列服务内容，或与我们联系。

服务内容：半导体制造, 半导体生产, 半导体批发, 治具, 弹簧探针, 垂直探针卡, 测试插座, 面板测试, 机器设备

适用：FPD(LCD、OLED、Touch Panel等）点灯测试及短断路测试.

说明：

随着LCD、OLED解析度提升，Pad的间距越来越小，精研的Micro Cube可确保稳定的点灯测试。独特的接触针款和超微精细加工技术，确保可适用于"交错排列25um"及"直线排列40um"的微小间距。除此之外，每一根探针都相对独立并具弹性，可对全部Pad均匀接触，而且每一根探针都可单独维修更换。另外，Film Test Head可对应"交错排列15um" 的微小间距。我们还经营可搭载各式治具的测试机台。除Cell面板测试以外，还可设计制作模组化后的点灯测试治具。