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平面显示器面板点灯测试

随着LCD、OLED解析度提升,Pad的间距越来越小,精研的Micro Cube可确保稳定的点灯测试;独特的接触针款和超微精细加工技术,确保可适用于"交错排列25um "及"直线排列40um"的微小间距。
型号 : Flat Panel Display Lighting Test

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平面显示器面板点灯测试|台湾最专业的半导体领导品牌-精研微科技股份有限公司

如有平面显示器面板点灯测试与半导体应用等相关问题,请参考下列服务内容,或与我们联系。

服务内容:半导体制造, 半导体生产, 半导体批发, 治具, 弹簧探针, 垂直探针卡, 测试插座, 面板测试, 机器设备


适用:FPD(LCD、OLED、Touch Panel等)点灯测试及短断路测试.

说明:

随着LCD、OLED解析度提升,Pad的间距越来越小,精研的Micro Cube可确保稳定的点灯测试。独特的接触针款和超微精细加工技术,确保可适用于"交错排列25um"及"直线排列40um"的微小间距。除此之外,每一根探针都相对独立并具弹性,可对全部Pad均匀接触,而且每一根探针都可单独维修更换。另外,Film Test Head可对应"交错排列15um" 的微小间距。我们还经营可搭载各式治具的测试机台。除Cell面板测试以外,还可设计制作模组化后的点灯测试治具。


2263255_orig.jpg2593106_orig.jpg6790261_orig.jpg

精研微科技股份有限公司

台湾桃园市桃园区经国路888号9楼之7

TEL:+886 3-346-6062

FAX:+886 3-346-6052

Email:info@seiken.com.tw

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