Kelvin测试探针卡

Kelvin测试探针卡｜台湾最专业的半导体领导品牌-精研微科技股份有限公司

如有Kelvin测试探针卡与半导体应用等相关问题，请参考下列服务内容，或与我们联系。

服务内容：半导体制造, 半导体生产, 半导体批发, 治具, 弹簧探针, 垂直探针卡, 测试插座, 面板测试, 机器设备

适用：WLCSP探針卡、CSP、BGA、QFN等各種封裝方式Test Socket

说明：

使用传统探针之Kelvin探针卡，因其Force及Sense的针间距无法缩短，造成针尖在锡球上打滑，针尖未能在Pad中心，所以无法得到稳定接触。

精研之新型Kelvin探针卡可依照传统探针使用方式，将针尖的间距缩短至60um；除此之外针对极小Bump及Pad也可稳定接触。

不仅指针对探针卡，也可运用于Test Socket。可对应CSP、BGA、QFN等各式各样元件之Kelvin量测，Min. Pitch可达 0.3 mm。