高密度印刷电路测试

显示模式：

IC 测试插座

型号 : ic-test-socket

对于无铅化焊球，利用独创的先进涂层技术及合金阻止了焊料的附着，从而实现可靠的测试。而且不仅可以进行单点接触，也可进行Kelvin接触。

平面显示器面板点灯测试

型号 : Flat Panel Display Lighting Test

随着LCD、OLED解析度提升，Pad的间距越来越小，精研的Micro Cube可确保稳定的点灯测试；独特的接触针款和超微精细加工技术，确保可适用于"交错排列25um "及"直线排列40um"的微小间距。

彈簧探針式探針卡

型号 : pogo-pin-probe-card

在WLCSP、FLIPCHIP測試中，將多年製作Test Socket所累積之對錫球的接觸技術運用於探針卡的製作上。利用獨創的先進鍍層技術及合金材料阻止銲錫附著，進而實現可靠的測試。

高频探针

型号 : High Frequency Probe

为确保各种半导体RF元件信赖性，高频探针不可缺。
1.为使达到高频测试目的，将全长短缩至极限长度1.5mm。
2.依元件电极种类，可提供皇冠头、尖头等不同针型。
3.跟一般弹簧探针一样，可单独更换其中任一支探针。

PCB/基板测试系统, MCM基板测试系统, 桌上型手动测试夹具

型号 : test-machine

从桌上型小面板到落地型中小型面板测试机台，我们可根据客户需求，制作各种规格产品。

另外，除了面板机台以外，关于基板、元件方面测试机台，也可联络我们。

各式特殊需求探針

型号 : special-needs-probe

針對電子羅盤、霍爾IC、MR、MI Sensor等各種磁傳感器的檢查，尋求使用無磁化探針檢查。

Kelvin测试探针卡

型号 : kelvin-probe-card

使用传统探针之Kelvin探针卡，因其Force及Sense的针间距无法缩短，造成针尖在锡球上打滑，针尖未能在Pad中心，所以无法得到稳定接触。

TCP/COF用探针卡

型号 : tcp-cof-vertical-type-probe-card-1

比现状TCP、COF检查用探针卡更容易对应Multi DUT产品，每支针可个别更换，降低营运成本。

高频测试插座

型号 : high-frequncy-test-socket

经由改变针头形状和表面处理，使得探针在LGA、BGA等封装方式测试方面，有稳定信号传输及没有限制探针配置的优点。

TCP/COF 测试插座

型号 : tcp-cof-test-socket

采用具有独创构造的Tubeless探针，适用于150um窄小间距。 Tubeless探针采用无套筒弹簧的独创构造，可适用于高密度的测试头。另外，经由采用独创的弹簧，不仅可适用于小间距，同时可实现100万次的耐用寿命。

POGO TOWER, MCM IC封装基板测试探针治具, TAB/COF/TBGA 短断路检查治具

型号 : test-fixture

种类齐全的探针系列，多年来治具制作累积的专有技术，产品可满足各种电子零组件的测试要求。所以，任何需要使用探针进行接触测试的业务都可以联系我们。

订制探针

型号 : probe-for-customer-design

针对客户需求，可订制各式探针。
无论长短、针头形状、材料材质、电镀种类、高频需求、高温需求、大电流需求...等皆可对应，若有其他需求，亦欢迎提出检讨。