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Micro Cube式探針卡

隨著晶片性能的提高,Pad的間距越來越小,精研的Micro Cube探針卡可保證穩定的接觸。獨特的接觸針款和超微精細加工技術,確保可適用於"45um"的小間距。
型号 : micro-cube-probe-card

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PCB /基板测试系统, MCM基板测试系统, 桌上型手动测试夹具|台湾最专业的半导体领导品牌-精研微科技股份有限公司

如有PCB /基板测试系统, MCM基板测试系统, 桌上型手动测试夹具与半导体应用等相关问题,请参考下列服务内容,或与我们联系。

服务内容:半导体制造, 半导体生产, 半导体批发, 治具, 弹簧探针, 垂直探针卡, 测试插座, 面板测试, 机器设备


適用:LSI、Memory、LCD Driver        

說明:

隨著晶片性能的提高,Pad的間距越來越小,精研的Micro Cube探針卡可保證穩定的接觸。獨特的接觸針款和超微精細加工技術,確保可適用於"45um"的小間距。除了能適用於極小間距外,與懸臂式探針卡比較,Micro Cube探針卡之Probe Mark很小,可將對Pad的損傷控制在最低限度。


        

精研微科技股份有限公司

台湾桃园市桃园区经国路888号9楼之7

TEL:+886 3-346-6062

FAX:+886 3-346-6052

Email:info@seiken.com.tw

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