平板显示器点灯测试

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型号 : alloy-probe

本公司针对无铅制程提供对策，针对客户所需之各式探针进行提案。代表性的产品有利用增加原有镀金硬度之「硬质镀金」、及精研自行开发之「合金」。比原先产品磨耗性、接触阻抗皆较稳定、并提升防止焊锡附着之能力。

型号 : micro-cube-probe-card

隨著晶片性能的提高，Pad的間距越來越小，精研的Micro Cube探針卡可保證穩定的接觸。獨特的接觸針款和超微精細加工技術，確保可適用於"45um"的小間距。

型号 : fine-pitch-probe

针对电子元件引脚窄化趋势，为确保信赖性，高精密探针不可缺。
利用本公司精密加工及组装技术，实现可对应80umPitch探针之制作。
1.为使达到Fine Pitch目的，将外径短缩至50um。
2.跟一般弹簧探针一样，可单独更换其中任一支探针。